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晶硅電池隱裂檢測

主要用于硅片來料隱性裂紋等缺陷的檢測

產品型號：LPsolar-SC100


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技術參數
產能 ≥3600片/小時
最高檢測精度 150μm
設備有效時間 99%
破片率 <0.05%（傳輸剔除）
重復性 99.85%
電壓 220V AV
功率 ≤1000W
產品優勢
  • 一體化隱裂碎片檢測模塊
  • 全定制光學系統（售價更低，性能更好）
  • 高效AI算法（算法時間100ms以內）
缺陷圖例

  • 隱裂缺陷-1

  • 隱裂缺陷-2

  • 隱裂缺陷-3

  • 隱裂缺陷-4

  • 隱裂缺陷-5

  • 隱裂缺陷-6

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